Il controllo della planarità
La misurazione della planarità, intesa come rilevazione degli scostamenti della superficie della piastrella da un piano ideale, é fondamentale per valutare la qualità e la rispondenza a criteri di accettabilità, in particolare sui grandi formati.
In produzione esistono da tempo apparecchiature di controllo, meglio noti come “planar”, in grado di operare in linea, tipicamente implementate con uno o più sensori che misurano la “distanza” lungo l’asse Z (quello perpendicolare al piano della piastrella) della superficie della piastrella dal sensore, mentre la piastrella stessa scorre sotto i sensori.
 I planar di tipo a scorrimento appena illustrati hanno il vantaggio di essere indipendenti dalle dimensioni della piastrella nella direzione di scorrimento, ma hanno il grave svantaggio di essere sensibili alle perturbazioni del moto della piastrella durante lo scorrimento dovute a vibrazioni, saltelli del nastro trasportatore, appoggio instabile della piastrella sul nastro, e svariate altre possibili cause di natura meccanica.
Inoltre non coprendo l'intera superficie, ma solo punti, possono fallire l'identificazione dei difetti che non ricadono sotto i sensori stessi.
La versione del planar a singola acquisizione, adottata fino ad oggi da TECNOEXAMINA, prevede l'utilizzo di una telecamera che riprende con una unica immagine l'intera piastrella sulla cui superficie vengono proiettate linee di luce strutturata (Laser). Il vantaggio di questa soluzione é l'insensibilità alle perturbazioni meccaniche, mentre tra gli svantaggi dobbiamo comprendere gli ingombri sulla linea, la necessità di telecamere a sempre maggiore risoluzione con l'aumentare dei formati, la necessità di sistemi di movimentazione dei proiettori Laser...
La nuova proposta di TECNOEXAMINA compendia gli aspetti positivi di entrambe le citate soluzioni, permettendo di recuperare le perturbazioni meccaniche del planar a scorrimento, mantenendo però ingombri limitati e senza la necessità di sistemi di movimentazione di telecamere e/o proiettori.
Questa tecnologia basata su un principio innovativo di acquisizione ed elaborazione, é disponibile sia come sistema a sé stante XML, sia integrato nella Scelta automatica XMS.
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I planar di tipo a scorrimento appena illustrati hanno il vantaggio di essere indipendenti dalle dimensioni della piastrella nella direzione di scorrimento, ma hanno il grave svantaggio di essere sensibili alle perturbazioni del moto della piastrella durante lo scorrimento dovute a vibrazioni, saltelli del nastro trasportatore, appoggio instabile della piastrella sul nastro, e svariate altre possibili cause di natura meccanica.
Inoltre non coprendo l'intera superficie, ma solo punti, possono fallire l'identificazione dei difetti che non ricadono sotto i sensori stessi.
